2012年2月7日火曜日

DRAMキャパシタ電極を6倍深く成膜、Ru材料を2012年に製品化| nikkei BPnet 〈日経BPネット〉

深さ10μm,開口直径250nm(アスペクト比40)の穴に形成したルテニウム(Ru)薄膜(a)。(b)は上部、(c)は中央部、(d)は底部(写真:田中貴金属工業)

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 田中貴金属工業は、DRAMのキャパシタ電極を従来の6倍の深さまで成膜できるルテニウム(Ru)材料を九州大学大学院 工学研究院 応用化学部門 教授の小江誠司氏と共同開発した。次世代DRAMを開発中の半導体メーカーが、製造工程に有機金属気相成長法(MOCVD)を本格導入する時期に合わせて2012年の製品化を目指す。

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